میکروسکوپ AFM

تماس بگیرید

Atomic Force Microscope (AFM)

معرفی دستگاه

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یکی از پیشرفته‌ترین تجهیزات آنالیز سطح در فناوری نانو است که امکان تصویربرداری سه‌بعدی و بررسی ساختار سطح نمونه‌ها را با دقت در مقیاس نانومتر و حتی آنگستروم فراهم می‌کند. این دستگاه با اندازه‌گیری نیروهای بسیار ضعیف بین نوک پروب و سطح نمونه، اطلاعات دقیقی از مورفولوژی، زبری، خواص مکانیکی و سایر ویژگی‌های سطح ارائه می‌دهد.

افزودن به سبد خرید
  • مشخصات محصول
  • نحوه عملکرد
  • کاربردها
  • مزایا
  • ویژگی‌های فنی
  • پارامترهای قابل اندازه‌گیری
نام دستگاهAtomic Force Microscope (AFM)
تکنولوژی عملکرداسکن سطح نمونه با نوک نانومتری و اندازه‌گیری نیروهای بین نوک و سطح
رزولوشن عمودیدر حد آنگستروم (زیر نانومتر)
رزولوشن جانبیحدود 1 نانومتر (بسته به مدل و شرایط کاری)
محدوده اسکناز چند میکرومتر تا حدود 100 میکرومتر
مودهای کاریContact، Tapping، Non-Contact
نوع نمونه قابل بررسیفلزات، پلیمرها، سرامیک‌ها، نیمه‌رساناها، نانومواد و نمونه‌های زیستی
محیط کاریهوا، مایع، خلأ و شرایط کنترل‌شده (بسته به مدل)
اندازه‌گیری‌هاتوپوگرافی سطح، زبری، خواص مکانیکی، الکتریکی و مغناطیسی
نوع پروبSilicon / Silicon Nitride Cantilever
سیستم کنترلنرم‌افزار تخصصی تصویربرداری و تحلیل داده‌ها
خروجی دستگاهتصاویر سه‌بعدی سطح، پروفایل ارتفاع و پارامترهای زبری
تجهیزات جانبیC-AFM، KPFM، MFM، Force Mapping و Raman (اختیاری)

در AFM یک پروب بسیار ظریف با نوکی در ابعاد چند نانومتر روی سطح نمونه حرکت می‌کند. نیروهای میان نوک پروب و سطح باعث تغییر شکل کانتیلور شده و این تغییرات توسط لیزر و آشکارساز نوری اندازه‌گیری می‌شوند. نرم‌افزار دستگاه با پردازش این اطلاعات، تصویری سه‌بعدی با وضوح بسیار بالا از سطح نمونه ایجاد می‌کند.

میکروسکوپ AFM در طیف گسترده‌ای از تحقیقات و صنایع مورد استفاده قرار می‌گیرد، از جمله:

  • فناوری نانو و نانومواد
  • علوم مواد و متالورژی
  • نیمه‌هادی‌ها و صنایع الکترونیک
  • پلیمرها و کامپوزیت‌ها
  • بیوتکنولوژی و علوم زیستی
  • داروسازی و پزشکی
  • پوشش‌ها و لایه‌های نازک
  • سلول‌های خورشیدی
  • باتری‌ها و مواد انرژی
  • مراکز تحقیقاتی و دانشگاهی
  • تصویربرداری سه‌بعدی با وضوح نانومتری
  • اندازه‌گیری دقیق زبری و توپوگرافی سطح
  • عدم نیاز به پوشش فلزی نمونه
  • قابلیت بررسی نمونه‌های رسانا و نارسانا
  • امکان اندازه‌گیری خواص مکانیکی، اصطکاکی، چسبندگی و الکتریکی
  • قابلیت کار در هوا، خلأ و محیط مایع
  • حداقل آسیب به نمونه‌های حساس
  • دقت و تکرارپذیری بسیار بالا
  • تصویربرداری سه‌بعدی از سطح نمونه
  • قدرت تفکیک در مقیاس نانومتر
  • قابلیت اندازه‌گیری زبری سطح (Surface Roughness)
  • اندازه‌گیری ابعاد نانوذرات و فیلم‌های نازک
  • اندازه‌گیری نیروهای بین‌مولکولی
  • اندازه‌گیری مدول الاستیسیته و سختی
  • اندازه‌گیری چسبندگی و اصطکاک سطح
  • قابلیت کار در حالت Contact، Tapping و Non-Contact
  • نرم‌افزار پیشرفته برای تحلیل داده‌ها و تصاویر

پارامترهای قابل اندازه‌گیری

  • توپوگرافی سطح
  • زبری سطح (Ra، Rq، Rz)
  • اندازه و توزیع نانوذرات
  • ضخامت فیلم‌های نازک
  • نیروی چسبندگی
  • مدول یانگ
  • سختی سطح
  • اصطکاک
  • هدایت الکتریکی (در مدل‌های پیشرفته)
  • خواص مغناطیسی (در مدل‌های مجهز)
  • خواص الکتریکی و پیزوالکتریک (در مدل‌های تخصصی)
سبد خرید